SPARK闪光(Ion Beam Profiler)离子束分析仪

SPARK闪光(Ion Beam Profiler)离子束分析仪 新型的Photonis离子束分析仪实现任何带电粒子(离子,电子,UV光子或软X射线等)的可视化,以100帧/秒的速度捕获图像,并将其存储在PC上,可通过系统搭配做离子束轮廓分析,支持选通快门。可根据应用,在订购时选择不同类型的微通道板,后端的Nocturn CMOS相机可以输出NTSC、PAL或CameraLink兼容格式的SXGA(1280x1024)图像,计算机接口为千兆位以太网或USB3,用于实时视频或离子束特征图像的静态捕获。 产品详情 新型的Photonis离子束分析仪实现任何带电粒子(离子,电子,UV光子或软X射线等)的可视化,以100帧/秒的速度捕获图像,并将其存储在PC上,可通过系统搭配做离子束轮廓分析,支持选通快门。        可根据应用,在订购时选择不同类型的微通道板,后端的Nocturn CMOS相机可以输出NTSC、PAL或CameraLink兼容格式的SXGA(1280x1024)图像,计算机接口为千兆位以太网或USB3,用于实时视频或离子束特征图像的静态捕获。   产...
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(Ion Be am Profiler)

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SPARK闪光(Ion Beam Profiler)离子束分析仪

新型的Photonis离子束分析仪实现任何带电粒子(离子,电子,UV光子或软X射线等)的可视化,以100帧/秒的速度捕获图像,并将其存储在PC上,可通过系统搭配做离子束轮廓分析,支持选通快门。

可根据应用,在订购时选择不同类型的微通道板,后端的Nocturn CMOS相机可以输出NTSC、PAL或CameraLink兼容格式的SXGA(1280x1024)图像,计算机接口为千兆位以太网或USB3,用于实时视频或离子束特征图像的静态捕获。

产品详情

新型的Photonis离子束分析仪实现任何带电粒子(离子,电子,UV光子或软X射线等)的可视化,以100帧/秒的速度捕获图像,并将其存储在PC上,可通过系统搭配做离子束轮廓分析,支持选通快门。

       可根据应用,在订购时选择不同类型的微通道板,后端的Nocturn CMOS相机可以输出NTSC、PAL或CameraLink兼容格式的SXGA(1280x1024)图像,计算机接口为千兆位以太网或USB3,用于实时视频或离子束特征图像的静态捕获。

  产品特性

  高灵敏CMOS相机

  自定义微通道板

  模拟或数字图像

  离子损失和优化的实时反馈

  技术参数

MCPs的物理特性

探测器的电学特性

CMOS相机

使用直径 25, 40, 75, 100 mm

电子增益@2400V 1 x 107 Minimum

Nocturn XL Monochrome

MCP孔间距 6, 12, 32 µm

偏置电流范围20-199 mA@ 2400V

像素大小9.7 x 9.7 µm

 

电阻12-120 Megohms

像素数1280 x 1024

  相关应用

  单光子测量;质谱仪;离子束分析;WMI;光谱学;

手机/微信:13242449659电话:0755-89355351 QQ:842471885 邮箱:842471885@qq.com