SPARK闪光 C15333-10E04 滨松InGaAs 线阵扫描相机
SPARK闪光 C15333-10E04 滨松InGaAs 线阵扫描相机 SWIR（短波长红外）成像是非破坏性检查的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西，根据其 SWIR 光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方式来确保产品质量。将 SWIR 成像集成到生产线需要 C15333-10E04 InGaAs 线阵扫描相机之类的相机，其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检查。 品牌：HAMAMATSU 型号：C15333-10E04 规格：像元尺寸：30μm×30μm 分辨率：320×256 有效 单位：东方闪光（北京）光电科技有限公司 产品详情 SWIR(短波长红外)成像是非破坏性检查的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西，根据其 SWIR 光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方式来确保产品质量。将 SWIR 成像集成到生产线需要 C15333-10E InGaAs 线阵扫描相机之类的相机，其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检查。 特点 950 nm 至 1700 nm 的 SWIR 灵敏度 1024 像素线性阵列 最大行速率：40 kHz 接...
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货号：
C15333-10E04
描述
SPARK闪光 C15333-10E04 滨松InGaAs 线阵扫描相机
SWIR（短波长红外）成像是非破坏性检查的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西，根据其 SWIR 光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方式来确保产品质量。将 SWIR 成像集成到生产线需要 C15333-10E04 InGaAs 线阵扫描相机之类的相机，其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检查。
品牌：HAMAMATSU
型号：C15333-10E04
规格：像元尺寸：30μm×30μm 分辨率：320×256 有效
单位：东方闪光（北京）光电科技有限公司
产品详情
SWIR(短波长红外)成像是非破坏性检查的理想解决方案。它可以看到表面之下的东西，根据其 SWIR 光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方式来确保产品质量。将 SWIR 成像集成到生产线需要 C15333-10E InGaAs 线阵扫描相机之类的相机，其高 SWIR 灵敏度和快速的线速非常适合实时、内联非破坏性检查。
特点
- 950 nm 至 1700 nm 的 SWIR 灵敏度
- 1024 像素线性阵列
- 最大行速率：40 kHz
- 接口：采用千兆以太网
- 配备高质量图像(背景扣除、实时阴影校正)
用途
- 食品和农产品(损坏检查、质量筛查、材质鉴别等)
- 半导体(硅晶圆图案检查、EL/PL 太阳能电池检测等)
- 工业(含水量、泄漏检测、容器检查等)
详细参数
| 产品型号 | C15333-10E04 |
| 成像设备 |
InGaAs 线阵传感器 |
| 有效像素数 | 1024 (H) × 1 (V) |
| 细胞大小 | 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
| 有效面积 | 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
| 满阱容量 | 获得0:4.0电子获得1:0.76电子获得2:0.16电子获得3:0.16电子 |
| 读出速度 |
内部模式：40 kHz(21 μs 曝光时间) 边缘触发器：20 kHz(21 μs 曝光时间) 同步读出：40 kHz |
| 曝光时间 | 21 μs 至 1 s（1 μs 步长） |
| 外部触发器输入 |
边缘触发器，同步读出 |
| 外部触发信号路由 |
SMA 或 12 针 HIROSE 连接器 |
| 图像处理功能 | 背景扣除，实时阴影校正 |
| 接口 | 千兆以太网 |
| A/D转换器 | 14 位 |
| 镜头接口 | C 型接口 |
| 电源 | 直流 12 V |
| 用电功耗 | 最大 6 W |
| 操作环境温度 | 0 ℃ 到 +40 ℃ |
| 存储环境温度 | -10 ℃ 到 +50 ℃ |
| 操作环境湿度 | 30% 至 80%(无雾气现象) |
| 存储环境湿度 | 最高 90%（无雾气现象） |
光谱灵敏度特性
尺寸
应用实例
# 检测咖啡豆中混入的石头
# 密封容器的液位检查
# 检测大米中混合的杂质(石头和塑料)
# 检查苹果是否损坏
# 包装检查
# 半导体晶圆检查
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