SPARK闪光 MS750 系列影像校正光谱仪
SPARK闪光 MS750 系列影像校正光谱仪
MS750系列代表了高端光谱测量技术的新标准，凭借其750毫米的焦距和1/8.9的F数，这款仪器不仅可以作为单色仪使用，更可以作为高性能的光谱仪。其设计重点在于大尺寸的焦面，确保了高强度、高准确度和卓越的光谱分辨率。
MS750系列代表了高端光谱测量技术的新标准，凭借其750毫米的焦距和1/8.9的F数，这款仪器不仅可以作为单色仪使用，更可以作为高性能的光谱仪。其设计重点在于大尺寸的焦面，确保了高强度、高准确度和卓越的光谱分辨率。
在光学配置方面，MS750系列采用了高质量的光学元件，并提供了广泛的衍射光栅选择，从而支持185 nm到60µm的操作范围，具体范围取决于所选的光栅。其核心设计之处在于Cherny-Turner非对称结构，这一独特的设计有效地最小化了像差，并消除了衍射光栅和反射镜的二次反射，保证了光谱的纯度。
为了进一步优化多通道光谱测量，MS7501i和MS7504i型号专门配备了散光矫正光学。此外，型号MS7504和MS7504i还配备了自动四光栅转塔，为用户提供了快速、准确的光栅切换以及高重复性的波长设置。而对于MS7501和MS7501i型号，我们采用了单位置支架，简化了手动切换光栅的过程。
在光栅选择上，我们提供了多种可变光栅，确保了在不同的光谱区域内都能实现比较好的能量效率和光谱分辨率。尤其是，光栅1200l/mm能够达到0.02 nm的分辨率，而中阶梯光栅更是可以达到1 pm，这使得MS750系列成为高分辨率光谱学——如拉曼光谱、激光诱导击穿光谱和多通道光谱——的首选设备。
总体而言，MS750系列影像校正光谱仪是一款兼具强大功能与灵活性的高端仪器，无论是其卓越的技术特点、还是其广泛的应用领域，都使其在光谱仪器市场中独树一帜。
MS750系列影像校正光谱仪型号
| 型号 | MS 7501 | MS 7501i | MS 7504 | MS 7504i |
| 衍射单元 | 手动更换光栅的单位置支架 | 四光栅塔轮 | ||
| 光学布局 | 标准 | 像散补偿（成像） | 标准 | 像散补偿（成像） |
在MS750系列影像校正光谱仪的标准光学配置中，特指MS7501和MS7504型号，其入口偏转镜采用了经典的平面镜设计。而为了针对特定的像散补偿需求，MS7501i和MS7504i型号则特别采用了柱面镜作为其入口偏转镜。
核心于MS750系列的设计是其采用的Cherny-Turner光路方案。在这一方案中，衍射光栅的旋转轴准确地穿过光栅平面的中心，并与光栅的凹槽方向完美对齐。这一独特的设计不仅保证了光束在焦平面上的几何稳定性，还为整个焦平面上的图像提供了卓越的质量。得益于这一非对称的设计以及大尺寸的聚焦镜，MS750系列能够充分利用整个焦场宽度，且无需担心渐晕的影响。
特别地，MS7504和MS7504i型号在设计上考虑了光谱扫描的实际需求，其光栅的旋转轴与光谱扫描轴是垂直布置的。这种考虑不仅简化了光谱扫描的过程，而且在更换光栅时为用户提供了高度重复性的波长设置，确保了测量的准确性和一致性。
特征及优势
| 精密光学系统 | 采用先进的光学设计与制造技术，实现优秀的像差补偿，确保测量结果的准确性与一致性。 |
| 高光谱分辨能力 | 提供高达1pm的分辨率，配备高分辨率模式，满足专业的科研与工业应用需求。 |
| 自动波长校准技术 | 内置高精度波长自动校准功能，确保长时间稳定运行下的测量精度。 |
| 高光学透过率 | 经过特殊设计与优化，实现了高达78%的透过率，大大提高了光谱采集的效率。 |
| 自适应对焦系统 | 无论是在测量不同波长还是更换衍射光栅时，均能自动维持比较好的焦距，消除手动对焦的繁琐。 |
| 全自动化操作 | 集成先进的自动控制技术，实现各项功能的无人值守操作，提高实验效率。 |
产品参数
光学系统：
| 光学系统 |
Cherny-Turner
（MS7501i 和 MS7504i 型号中的像散补偿）
|
| 端口 | 1路输入，2路输出 |
| 波长范围 | 185 nm-60 μm（取决于光栅类型） |
| F值（入口） | 1/8.9 |
| 焦距（输出） | 750 mm |
| 光栅旋转角带来的扫描范围限制* | 0-1270 nm |
| 基本反射镜 | 球面 |
| 杂散光抑制比 | 5.5x10-7（距离632.8nm激光波长20nm） |
| 焦平面 | 28x10 mm |
*光学方案针对以下方面进行了优化：
● 最小化设备整个工作光谱范围内的彗差;
● 消除两个基本镜子的光线重新进入;
● 消除仪器反射镜和焦平面中探测器输入窗口之间的光线再入;
● 整个工作光谱范围内的大焦平面;
● 通过特殊的校正光学元件对整个工作光谱范围进行像散补偿(用于成像修正MS7504i 和 MS7501i)。
成像：
| 型号 | MS7501,MS7504 | MS7501i,MS7504i |
| 水平放大率 | 1.05 | |
| 垂直放大率 | —— | 1.125 |
| 垂直空间分辨率 | —— | <15 μm |
采用MS7504i影像校正光谱仪 (光栅1800l /mm，光源-汞氦灯- 576.961 nm和579.067 nm，多通道光纤束，纤芯直径200µm, CCD像元尺寸24×24µm) 获得的光谱图像。1 -光谱图像全貌。2 -部分放大的光谱图像。
光学特性：
| 光栅 | 1200l/mm@546nm | 75l/mm@200nm,120阶 | |
| 倒易线色散 | 1.02nm/mm | 0.055nm/mm | |
| 重复性 | ±0.007nm | ±0.0009nm | |
| 光谱分辨率 | 光电倍增管 | 0.015nm | 0.0008nm |
| 数码相机（12 μm 像素） | 0.02 nm | 0.0011nm | |
| 波长精度 | ±0.034 nm | ±0.0045nm | |
| 平均扫描步长 | 0.0017 nm | —— | |
| 200nm处扫描步长 | —— | 2.25x10-4nm | |
驱动规格：
| 电动机 | 微步进电机 |
| 驱动方式 | 正弦 |
| 步长 | 0.22角秒 |
| 精度 | ±1 步 |
| 最大速度 | 10000步每秒 |
衍射光栅：
| 型号 | MS7501(i) | MS7504(i) | |
| 光栅尺寸 | 80x70x10mm | ||
| 旋转方式 | 关于光栅工作表面中心 | ||
| 衍射光栅挂载 | 1个手动可变光栅定位器 | 自动四光栅塔轮 | |
| 光栅重复性 | 波长 | ±0.05 nm | ±0.03nm |
| 垂直图像 | ±50 μm |
±35 μm（典型）
±50 μm（最大）
|
|
光谱狭缝：
| 控制 | 自动（驱动）或手动（千分尺） |
| 宽度 | 调节范围为0至2.0 mm |
| 平行度 | ±1 μm |
| 精度（狭缝宽度1 mm） | ±10 μm |
| 重复性 | ±1 μm（±1.5 μm，手动狭缝） |
| 读出精度（千分尺） | 2 μm |
| 步长 | 0.5 μm |
| 高度 | 膜片调节范围为0至10 mm |
端口和集成快门：
| 端口 | 集成快门 | ||
| 端口数量 |
1路输入
2路输出
|
关闭时间 | 约100 ms |
|
输出端口重复性
（自动翻转镜）*
|
±0.01 nm |
最大频率 |
1Hz |
| 切换时间（输出端口） | 10s |
控制 |
板上CPU或来自外部设备的TTL信号 |
控制和整体尺寸：
| 控制 | 尺寸 | ||
| 中央控制 | 板上CPU |
外形外形尺寸(长x宽x高) |
950x361x343 mm |
| 外部控制 | PC | 重量 |
45公斤(可能有所不同，具体取决于配置) |
| 外部接口 | 以太网 | ||
*注释给出的是光栅1200/mm，狭缝宽度15 μm，波长546nm的特性。
DevCtrl 软件：
控制软件 DevCtrl 随单色仪-光谱仪一起提供。
DevCtrl 控制设备和附件的所有驱动程序和单元。该软件还可以访问设备的系统参数和设置系数。
光谱软件SpectraSP：
光谱学软件SpectraSP旨在联合控制基于集成或多元件光电探测器的单色仪-光谱仪和检测系统。SpectraSP通过各种探测器同时控制设备和光辐射检测过程，随后处理采集的数据及其图形表示。
*通过SpectraSP执行:
● 控制设备单元和机构;
● 使用各种探测器记录光辐射;
● 光谱测量结果的处理;
● 以光谱图形图像的形式可视化采集结果。
MS750配置图：
手机/微信：13242449659电话：0755-89355351 QQ：842471885 邮箱：842471885@qq.com