Labsphere蓝菲光学 输入光学元件

光测量单位依据特定的空间响应特性而定义，确保测量精度则离不开精心设计的输入光学系统。

在辐射度学与光度学中，两大几何光学定律发挥着直接作用：反平方定律与余弦定律。

反平方定律阐述了点光源辐照度与测量表面距离之间的量化关系，即单位面积上的光强与光源至表面距离的平方成反比。

具体而言，若在某点1米处测得辐照度为16 W/cm²，则在距离加倍至2米时，辐照度将减至4 W/cm²，同理可推算出任意距离下的辐照度。进行精确插值的前提是，测量平面需明确界定，且光源需近似于点光源。

在辐射亮度测量（单位：W/cm²/sr）中，当探测器以窄视角观测大面积且均匀的光源时，随着探测器距离的增大，其视野内的光源面积亦随之扩大，这一效应抵消了反平方定律的影响，使得测量结果不再受距离变化的影响。

辐射亮度测量技术对于评估大面积光源（如阴极射线管（CRT）、背光显示器等）或漫反射、均匀照明的表面具有重要意义。

余弦定律则揭示了表面辐照度与入射角之间的关联。随着入射角的增大，有效表面积减小，导致光强按入射角的余弦值比例下降。

对于辐照度与照度探测器，尤其是那些通过滤波器限制非直射光的探测器而言，进行余弦校正至关重要，以确保能够准确量化来自各个角度的光照。不精确的余弦响应是全浸没应用中误差的主要来源之一。

在光测量领域，众多应用场合均需采用专门设计的输入光学元件。例如，强烈的激光束需经过扩散处理，以避免因光束过窄而导致接收器局部饱和。同时，许多高强度紫外光源则需配备耐高温的远程光学元件，这些元件需具备余弦空间响应特性及侧视功能。

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