AVANTES爱万提斯 AvaSpec—Thin Film薄膜测量
AVANTES爱万提斯 AvaSpec—Thin Film薄膜测量 该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从 10 nm 到 50μm， 分辨率可达 1 nm，测量范围从紫外 / 可 见到近红外（200-1100 nm）。 典型应用领域 半导体工业 太阳能电池板 镀膜 订购信息 AvaSpec—Thin Film 光谱仪 AvaSpec-ULS2048CL-EVO Grating UA (200-1100nm)100 μm slit, DCL-UV/VIS-200 OSC-UAAvaSoft-Thinfilm 光源 Avalight-DHc PS-12V/1.0A 光纤 FCR-7UVIR200-2-ME 附件 THINFILM-STAGE 支架和标准板 手机/微信：13242449659电话：0755-89355351 QQ：842471885 邮箱：842471885@qq.com...
分类：
货号：
AvaSpec—Thin Film
相关产品
描述
AVANTES爱万提斯 AvaSpec—Thin Film薄膜测量
该系统为单层膜测量提供了所需的测量工具，包括反射探头和支架，可以测量的膜层厚度从 10 nm 到 50μm， 分辨率可达 1 nm，测量范围从紫外 / 可 见到近红外（200-1100 nm）。
典型应用领域
-
半导体工业
-
太阳能电池板
-
镀膜
订购信息
AvaSpec—Thin Film
|
光谱仪 |
AvaSpec-ULS2048CL-EVO |
Grating UA (200-1100nm) OSC-UA |
|
光源 |
Avalight-DHc |
PS-12V/1.0A |
|
光纤 |
FCR-7UVIR200-2-ME |
|
|
附件 |
THINFILM-STAGE 支架和标准板 |
手机/微信：13242449659电话：0755-89355351 QQ：842471885 邮箱：842471885@qq.com