Sintec新特 IFA-100 光纤折射率分析仪
Sintec新特 IFA-100 光纤折射率分析仪 我们专注于横向干涉测量法,它是最敏感的光纤测量技术。我们独家专利的多波长光纤折射率分析技术最早是在OFC/NFOEC 2009上发布的,并且此后一直成为同行业审查会议和期刊出版的主题。因为测量是横向执行(通过光纤的端口),所以它从本质上是无损检测。虽然光纤的高分子涂层或者缓冲区必须被去除,光纤本身仍然可以继续传输测量中的光信号,同时如果必要的话那些高分子涂层在光纤测量之后可以被完全恢复。 技术参数 折射率精度 +/− 0.0001 空间分辨率 ~ 500 nm 测量波长 500 nm - 1 μm 光纤直径 40 μm - 400 μm 光纤材质 硅玻璃, 非硅玻璃,塑料 同轴度误差的测量 +/− 200 nm 同轴度误差的测量 +/− 0.4 % 光纤类型 单模, 多模, 微结构 (PCF), PM, 多芯, 稀土, 包层泵浦, 大模面积, 弯曲损失, 高-Δ, 等. 手机/微信:13242449659电话:0755-89355351 QQ:842471885 邮箱:842471885@qq.com...
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IFA-100
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描述
Sintec新特 IFA-100 光纤折射率分析仪
我们专注于横向干涉测量法,它是最敏感的光纤测量技术。我们独家专利的多波长光纤折射率分析技术最早是在OFC/NFOEC 2009上发布的,并且此后一直成为同行业审查会议和期刊出版的主题。因为测量是横向执行(通过光纤的端口),所以它从本质上是无损检测。虽然光纤的高分子涂层或者缓冲区必须被去除,光纤本身仍然可以继续传输测量中的光信号,同时如果必要的话那些高分子涂层在光纤测量之后可以被完全恢复。
技术参数
折射率精度 | +/− 0.0001 |
空间分辨率 | ~ 500 nm |
测量波长 | 500 nm - 1 μm |
光纤直径 | 40 μm - 400 μm |
光纤材质 | 硅玻璃, 非硅玻璃,塑料 |
同轴度误差的测量 | +/− 200 nm |
同轴度误差的测量 | +/− 0.4 % |
光纤类型 | 单模, 多模, 微结构 (PCF), PM, 多芯, 稀土, 包层泵浦, 大模面积, 弯曲损失, 高-Δ, 等. |
手机/微信:13242449659电话:0755-89355351 QQ:842471885 邮箱:842471885@qq.com