Sintec新特 STAR-FGC-GA 阵列几何测量系统
Sintec新特 STAR-FGC-GA 阵列几何测量系统 STAR-FGC-GA是v型槽阵列生产测量和过程控制的最终解决方案。通过一个单元，用户可以测量宽达15mm的多光纤阵列的v型槽块几何形状、芯对芯间距和芯X & Y偏置。STAR-FGC-GA具有1200um可视范围以及用于沿阵列的整个宽度扫描的自动横向工作台，是生产高质量v型槽阵列的最快和最灵活的方式。 特点和优势 测量芯到芯间距，x偏置，y偏置和v型槽块几何形状。 横向调整阶段和图像拼接测量超过15毫米阵列宽度。 灵活的软件可以调整不同的光纤类型(SM, PM, MM)。 1200um可视范围可同时测量多达4个核心，减少整体测量时间。 可根据客户要求提供自定义数组。 规格 光学参数 STAR-FGC-GA 可重复性 核心X/ y偏移量* ＜ 0.1um 芯间距离* ＜ 0.1um 测量能力 3根光纤阵列测量时间＜ 1分钟(不包括光纤制备) 阵列宽度可达15mm 光纤类型单模，多模，PM...
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STAR-FGC-GA
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描述
Sintec新特 STAR-FGC-GA 阵列几何测量系统
STAR-FGC-GA是v型槽阵列生产测量和过程控制的最终解决方案。通过一个单元，用户可以测量宽达15mm的多光纤阵列的v型槽块几何形状、芯对芯间距和芯X & Y偏置。STAR-FGC-GA具有1200um可视范围以及用于沿阵列的整个宽度扫描的自动横向工作台，是生产高质量v型槽阵列的最快和最灵活的方式。
特点和优势
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测量芯到芯间距，x偏置，y偏置和v型槽块几何形状。
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横向调整阶段和图像拼接测量超过15毫米阵列宽度。
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灵活的软件可以调整不同的光纤类型(SM, PM, MM)。
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1200um可视范围可同时测量多达4个核心，减少整体测量时间。
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可根据客户要求提供自定义数组。
规格
| 光学参数 | STAR-FGC-GA 可重复性 核心X/ y偏移量* ＜ 0.1um 芯间距离* ＜ 0.1um 测量能力 3根光纤阵列测量时间＜ 1分钟(不包括光纤制备) 阵列宽度可达15mm 光纤类型单模，多模，PM 物理参数 重量13kg(带提包44kg) 尺寸0.5m x 0.5m x 0.2m 工作温度0 - 50°c 湿度5% - 95%，相对，不凝结 数据接口3 X USB 3.1 (USB B到USB A: 0.5m电缆提供) 计算机要求所有FGC系统都配有一台台式计算机 运行最新视窗操作系统 |
| 最大可视范围 | 1200um |
| 光纤照明-反射 | 多通道 525nm |
| 光纤照明-传输 | 暗视野照明, 525nm LED |
手机/微信：13242449659电话：0755-89355351 QQ：842471885 邮箱：842471885@qq.com